吉时利的 S530 参数测试系统采用了成熟的源和测量技术,可满足工艺控制监测、工艺可靠性监测以及器件特性分析所需的全部直流和 C-V 测量。
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已有0人评价 浏览:80次 下载:10次 贡献者: liujing 标签:半导体 参数测试系统 分类: 电子工程
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