IC设计的可靠性检查电路可靠性 , 亦即电路抗电气故障的鲁棒性(robustness) , 已日益成为IC设计师的关注点。其中的很多问题多年来已为人所知,有时人们觉得可靠性风险主要是最新制程世代才会面临的问题。诚然 , 越小的器件、越细的导线、越薄的栅氧化层越容易受到过度电性应力（EOS）的影响 , 而新制程世代 , 对特定版图形状和图案也更为敏感。然而 , 如果设计师认为在成熟节点上不存在电路可靠性问题的话 ,
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贡献者： huangyan94
标签：IC IC设计 可靠性
分类：
电子工程
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