本文采用HF和HNO3 (6:2)微波消解工业硅样品,用ICP-AES法同时测定工业硅中的Cu、Mn、Fe、Ni、Ti、Al、P和B等八种杂质元素。该方法快速简便、准确率高、精密度好,对产品质量控制及检验杂质元素含量,具有可操作性和很好地应用价值。
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已有0人评价 浏览:164次 下载:11次 贡献者: wkwk 标签: 分类: 仪器仪表
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