LED发光是带电粒子在半导体能隙之间跃迁的结果。能隙的大小决定了发光的波长。LED的发展已经产生了表面和边缘发光技术,改变波长和功率特性等性能指标。本文介绍了有关构建用于检验单个和多个(阵列)LED器件的生产测试系统解决方案的方法和问题。
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已有0人评价 浏览:116次 下载:18次 贡献者: wenku 标签: 分类: 半导体照明
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