随着集成电路的飞速发展,其规模越来越大,对电路的质量与可靠性要求进一步提高,集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此,研究和发展IC测试,有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分,研究其生成方法也日渐重要。
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乘用车中的电子部分持续快速增长,驱动这一现象的主要因素是乘用车中集成了各种高级安全功能。整个行业向全自动驾驶汽车的转变有望进一步增加此类安全功能的数量,进而增加电子部分的比重。最近有报告表明,高端汽车中目前集成了成百上千的半导体器件。另外,这些元器件的复杂性也是与日俱增。事实上,引领先进半导体前沿市场的正是执行人工智能算法所需的芯片,而且这些算法可以管理新兴的自动驾驶功能。
0 | 上传人:科技小导游 2018-05-03 10:23:16 | 热度: 格式:pdf 0篇相似文档
测试的目的自然是要把好坏芯片区分出来,把好的芯片送出去,确保质量不达标的坏芯片不会被送到客户那里去.很多公司往往习惯性地把实验室里系统验证的方法延伸到量产中去,用自搭电路系统去取代专业的测试机。
0 | 上传人:fengyingxi 2013-12-20 16:05:00 | 热度: 格式:pdf 3989篇相似文档
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