在精密光电检测领域中，光源的微小波动会引起被测量的较大偏移，从而产生较大的测量误差。如在半导体薄膜特性检测中，常常需要检测薄膜反射比以求解出其它光电学参量。由于薄膜增长的缓慢(0.1mm级/秒)，反射比变化非常小，在这种情况下，对于光源稳定性的要求非常高，达到0.1%。
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功率稳定可调LD驱动电路的设计
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