目前广泛用于集成电路封装测试的设备是由计算机软件控制,通过接口总线与硬件设备通信,能够代替测试人员的大部分劳动,也称为自动化测试系统(ATE)。
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在精密光电检测领域中,光源的微小波动会引起被测量的较大偏移,从而产生较大的测量误差。如在半导体薄膜特性检测中,常常需要检测薄膜反射比以求解出其它光电学参量。由于薄膜增长的缓慢(0.1mm级/秒),反射比变化非常小,在这种情况下,对于光源稳定性的要求非常高,达到0.1%。
0 | 上传人:HB1973 2014-09-11 17:58:40 | 热度: 格式:doc 3989篇相似文档
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