光学元件内部应力产生的双折射效应会影响到光的偏振状态,而这在微平板印刷、激光光学和天文学等应用方面是不能容忍的。通常,精确测量微小应力双折射的要求非常苛刻。而能够同时给出应力双折射空间分布及其方向的图像偏振测量仪,使这一问题得到了很好的解决。
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