随着LED应用环境的多元复杂化,LED下游商对上游晶粒品质的要求日趋严苛,如LED耐静电测试(Electrostatic Discharge,ESD)的电压值就从原本4kV要求,逐渐提高到8kV,以容忍户外的恶劣环境。所以高压LED耐静电测试为目前LED晶粒点测机中,急待开发的关键模组。
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