4200-SCS半导体特性分析系统200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有 无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统合及时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进 行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能。它是一套功能强大的单机解决方案。
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