芯片漏电是失效分析案例中最常见的,找到漏电位置是查明失效原因的前提,液晶漏电定位、EMMI(CCD\InGaAs)、激光诱导等手段是工程人员经常采用的手段。多年来,在中国半导体产业有个误区,认为激光诱导手段就是OBIRCH。今日小编为大家科普一下激光诱导(laser scan Microscope).
0 | 上传人:探针台 2019-02-26 09:35:58 | 热度: 格式:pdf 0篇相似文档