对于超薄介质,由于存在大的漏电和非线性,通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容(Cox)。然而,使用高频电路模型则能够精确提取这些参数。
您还没有安装flash播放器,请点击这里安装
0
已有0人评价 浏览:172次 下载:16次 贡献者: liaoyanfan 标签:IC芯片 射频 分类: 电子工程
0页 0财富值