随着集成电路的飞速发展,其规模越来越大,对电路的质量与可靠性要求进一步提高,集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此,研究和发展IC测试,有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分,研究其生成方法也日渐重要。
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已有0人评价 浏览:1088次 下载:15次 贡献者: liujing 标签:集成电路 IC测试 分类: 电子工程
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